近日，中國(guó)航天科工集團(tuán)公司二院201所失效分析研究室 “半導(dǎo)體器件物理特征分析方法”發(fā)明通過(guò)了國(guó)家專利局的最終審核，被授予國(guó)家發(fā)明專利，標(biāo)志著201所在仿冒翻新元器件鑒別分析技術(shù)領(lǐng)域走在了行業(yè)前列，并掌握了核心技術(shù)的話語(yǔ)權(quán)。

“半導(dǎo)體器件物理特征分析方法”(即PFA)的形成源于失效分析研究室早在2008年即開(kāi)始關(guān)注的進(jìn)口半導(dǎo)體器件仿冒翻新問(wèn)題。隨著電子和信息技術(shù)的快速發(fā)展，包括半導(dǎo)體器件在內(nèi)的電子元器件更新?lián)Q代周期變短，導(dǎo)致元器件用戶的供應(yīng)鏈管理出現(xiàn)困難，即原設(shè)計(jì)使用的元器件可能已經(jīng)停產(chǎn)，特別是對(duì)元器件用量少、品種多、可靠性要求高的部件或整機(jī)廠家而言，由于采購(gòu)量小且必須通過(guò)代理商進(jìn)行采購(gòu)，因此給仿冒翻新器件提供了進(jìn)入產(chǎn)業(yè)鏈的機(jī)會(huì)。如進(jìn)入軍品供應(yīng)鏈，則將嚴(yán)重影響裝備的質(zhì)量與可靠性。因此，鑒別所購(gòu)元器件特別是進(jìn)口半導(dǎo)體器件是否為防冒翻新產(chǎn)品是軍品檢驗(yàn)不可或缺的重要環(huán)節(jié)。

失效分析研究室經(jīng)過(guò)4年時(shí)間的檢測(cè)分析經(jīng)驗(yàn)積累，利用2年(2012-2013年)時(shí)間對(duì)進(jìn)口器件仿冒翻新識(shí)別技術(shù)進(jìn)行了集中研發(fā)和攻關(guān)。2013年中旬轉(zhuǎn)化為實(shí)際技術(shù)成果，并首創(chuàng)了“半導(dǎo)體器件物理特征分析”(PFA)這一技術(shù)名詞，編寫了相應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)，隨即進(jìn)行了專利申請(qǐng)。2014年，PFA已正式成為二院型號(hào)進(jìn)口元器件質(zhì)量保證流程中的最前道環(huán)節(jié)。

本次專利申請(qǐng)的獲批也有助于軍品元器件檢測(cè)分析技術(shù)向民品領(lǐng)域的拓展推廣，未來(lái)元器件物理特征分析技術(shù)有望涉足船舶、汽車、高鐵等高可靠工業(yè)電子領(lǐng)域，以及涉及元器件采購(gòu)合同糾紛的司法鑒定領(lǐng)域。